ITC57300动态测试仪替代品易恩IGBT动态参数测试
EN-2020A半导体器件动态参数测试系统
系统概述
IGBT是广泛应用于现代中、大功率变换器中的主流半导体开关器件,其开关特性决定装置的开关损耗、功率密度、器件应力以及电磁兼容性,直接影响变换器的性能。因此准确测量功率开关元件的开关性能具有极其重要的实际意义。
EN-2020A半导体器件动态参数测试系统,该系统是针对IGBT器件的开关性特性及IGBT内部续流二极管的反向恢复特性而专门设计的一套全自动测试系统,适用于电流不超过1500A和集电极电压不超过3500V的IGBT器件开关时间测试以及正向电流不超过2000A的二极管反向恢复特性的测试。
基础规格
规 格:1800×800×800(mm)
质 量:155Kg
环境温度:15~40℃
相对湿度:小于80%
大气压力:86Kpa~ 106Kpa
电网电压:AC220V±10%无严重谐波
电网频率:50Hz±1Hz
参数/条件 IGBT开通特性测试IGBT关断特性测试测试气动夹具测试参数开通延迟 tdon10-1000ns±5%±10ns
Tj=25℃和125℃关断时间tdoff10-1000ns±5%±10ns
Tj=25℃和125℃压力:
5000PA的品牌空压机供气。
控温范围:
25℃-200℃
控温精度:
±1.0℃±1%
器件接触:
20个探针的接触矩阵
上升时间
tr10-1000ns±5%±10ns
Tj=25℃和125℃下降时间tf10-1000ns±5%±10ns
Tj=25℃和125℃开通能量
Eon10-1000ns±5%±10ns
Tj=25℃和125℃关断能量Eoff10-1000ns±5%±10ns
Tj=25℃和125℃测试条件集电极电压Vce50-3500V±5%
根据用户要求定制集电极电压Vce50-3500V±5%
根据用户要求定制集电极电流Ice50-1500V±5%
根据用户要求定制集电极电流Ice50-1500V±5%
根据用户要求定制负载L20-1000uHL负载20-1000uH栅极电压Vge±15V±3%±0.2V 短路测试Sct一次短路 / 脉宽10uS / 短路电流10KA二极管反向恢复测试Drr反向恢复电流 / 反向时间 / 反向di / dt