NANOMAP-LS 探针式三维形貌仪

简介：

美国AEP Technology公司主要从事半导体检测设备, MEMS检测设备, 光学检测设备的生产制造，是表面测量解决方案行业的领先供应者,专门致力于材料表面形貌测量与检测。公司始终致力于微观表面“三维”检测技术和设备的研发及推广，历经近十年努力，已为30多个国家提供NanoMap系列三维表面形貌测量系统。

NanoMap-LS三维表面形貌/轮廓仪主要应用在金属材料、生物材料、聚合物材料、陶瓷材料等各种材料表面的薄膜厚度，台阶高度，二维粗糙度（Ra,Rq,Rmax...），三维粗糙度（Sa,Sq,Smax），划痕截面面积，划痕体积，磨损面积，磨损体积，磨损深度，薄膜应力（曲定量率半径法）等定量测量。摆脱了以往只能得到二维信息，或三维信息过于粗糙的现状。将台阶仪带入了另一个高精度测量的新时代。

特点：

1.     全自动软件控制

2.     0.1到100 mg接触力

3.     垂直分辨率可达0.1nm 。

4.     每次扫描*少1 0 0点，*多可达1 5 0 ,0 0 0数据点

5.     一体化彩色摄像机在扫描同时可直接观察样品

6.     简单一键操作与用户友好的操作界面

应用领域：

测量表面可以覆盖多种材料表面：金属材料、陶瓷材料、生物材料、聚合物材料等等，对于植物表面，生物材料，聚合物表面，光刻胶等“柔软表面”也可测量无须担心划伤或破坏。设备传感器精度高，稳定性好。热噪声是同类产品*低的。

主要技术参数

垂直分辨率: 0.1nm

重复性: 0.54 nm(1Sigema @1um)

垂直范围: 524um（1mm可选）

扫描范围: 150mm x 150mm

地址：北京市海淀区清河三街 95 号同源大厦929 室，100085

电话：010-62961582，82718430

传真：010-82718430  

网址：www.ychdbj.com

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