x射线膜厚测试仪

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膜厚测试仪（电镀膜厚仪）镀层测厚仪/膜厚仪/精工膜厚仪/薄膜镀层分析仪/电镀测厚仪/电镀镀层测厚仪/镀层测量仪/膜厚测量仪/镀层厚度检测仪/测厚仪/膜厚分析仪/镀层分析/无损检测仪/深圳测厚仪/进口测厚仪/金属膜厚测试仪/电镀膜厚测量仪/电镀膜厚检测仪/电镀膜厚测厚仪/金镍测厚仪/铜厚测量仪/博曼测厚仪/无损测厚仪/薄膜厚度测量仪/薄膜测厚仪仪等高科技仪器，由深圳金东霖厂价直销，欢迎各行业的朋友来电咨询、了解或参观相关博曼仪器设备。深圳金东霖以*优的服务，为您提供*佳的解决方案。

x射线膜厚测试仪1.用先进的X射线技术,可高效率低成本,小型的X-射线荧光光谱仪,操作简易但功能强大。

2.可分析元素由铝(13)到铀(92),并且具备视像显微镜及可测量小到ppm的范围,即使是较大的测量样品也可放在XY(Z)测量台上。

3.拾载的WinFTM v6软件,使仪器可以在没有标准片的情况下进行测量。

4.能够检测各种大小的样品，满足镀层厚度测量和材料分析。

5.新型号设计，快速分析（几秒）1-4层镀层厚度。

6.多款规格，例如标准样品台、加深样品台或自动程控样品台。

7.满足所有样品类型，开槽式样品舱可检测大面积样品，例如印制线路板等。

8.符合ISO3487和ASTM B568检测方法

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