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高温差热分析仪是在程序控制温度下，测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技术。差热分析曲线是描述样品与参比物之间的温度(△T)随温度或时间的变化关系。在DTA试验中，样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。如：相转变，熔化，结晶结构的转变，沸腾，升华，蒸发，脱氢反应，断裂或分解反应，氧化或还原反应，晶格结构的破坏和其他化学反应。 DZ3332高温差热分析仪特点: 1.仪器主控芯片采用Cortex-M3内核ARM控制器，运算处理速度更快，温度控制更。 2.采用USB双向通讯，操作更便捷。 3.采用7寸24bit色全彩LCD触摸屏，界面更友好。 4.采用铂铑合金传感器，更耐高温、抗腐蚀、抗氧化。 技术参数: 1.温度范围:室温~1350℃ 2.量程范围:0～±2000μV 3.DTA精度:0.01μV 4.升温速率:1～80℃/min 5.温度分辨率:0.1℃ 6.温度准确度:±0.1℃ 7.温度重复性:±0.1℃ 8.温度控制:升温：程序控制可根据需要进行参数的调整 恒温：程序控制恒温时间任意设定 9.炉体结构:炉体采用上开盖式结构，代替了传统的升降炉体，精度高，易于操作 10.气氛控制:内部程序自动切换 11.数据接口:标准USB接口配套数据线和操作软件 12.显示方式:24bit色，7寸LCD触摸屏显示 13.参数标准:配有标准物，带有一键校准功能，用户可自行对温度进行校正 14.基线调整:用户可通过基线的斜率和截距来调整基线 15.工作电源:AC220V50Hz 更多信息详见：https://www.chem17.com/st464838/product_35335856.html http://www.njdzjcyq.com/Products-35335856.html
