华科2000型电感耦合等离子发射光谱仪

一、仪器组成及工作原理 ICP等离子体单道扫描光谱仪,是多元素顺序测量的分析测试仪器。 该仪器由扫描分光器、射频发生器、试样引入系统、光电转换、控制系统、数据处理系统、分析操作软件组成。等离子体是在三重同心石英炬管中产生。炬管内分别以切向通入氩气，炬管上部绕有紫铜负载线圈〈内通冷却水〉当高频发生器产生的高频电流（工作频率40MHz功率1KW左右）通过线圈时，其周围产生交变磁场，使少量氩气电离产生电子和离子，在磁场作用下加速运动与其它中性原子碰撞，产生更多的电子和离子，在炬管内形成涡流，在电火花作用下形成等离子炬（即等离子体），这种等离子体温度可达10000K以上。待测水溶液经喷雾器形成气溶胶进入石英炬管中心通道。原子在受到外界能量的作用下电离，但处于激发态的原子十分不稳定，从较高能级跃迁到基态时，将释放出巨大能量，这种能量是以一定波长的电磁波的形式辐射出去。不同元素产生不同的特征光谱。这些特征光谱通过透镜射到分光器中的光栅上，计算通过控制步进电机转动光栅,传动机构将分光后的待测元素特征谱线光强准确定位于出口狭缝处，光电倍增管将该谱线光强转变为电流，再经电路处理和V/F转换后，由计算机进行数据处理，***后由打印机打出分析结果。 二、仪器型号：????????? HK－2000（准确度达到国家A级标准） 三、技术指标 (1) 分析速度快:??? 一分钟分析***快扫描20个元素以上 (2) 扫描范围：???? 扫描范围180~800nm、方式为正弦杆，由计算机控制的脉冲马达驱动，***小扫描步距0.0005nm (3) 波长示值误差和重复性：波长示值误差 ≤0.03nm????? 重复性 ≤0.005nm (4) 相关系数：????? ≥0.9998 (5) 精密度高：????? 相对标准偏差RSD≤1.5% (6) 稳定性：??????? 相对标准偏差RSD≤2.0% (7) 测量范围：?? ???超微量到常量 (8) 检出限低：????? PPB级 (9) 分析元素范围广：可对72种金属元素和部分非金属元素（如B、P、Si、Se、Te）进行定量或定性分析；基体效应低动态线性范围宽，自吸收效应低 (10) 测量方式：???? 单、多元素顺序测量 (11) 功率：???????? 800W—1200W 可调 ? (12) 操作便捷: ?????全新Windows XP下运行的第三代多窗口升级中文或英文分析软件速度更快，功能更全,多窗口多任务同时执行(国内独此一家) 四、仪器部件详细参数 1、射频发生器（RF） 电路类型：电感反馈自激式振荡电路、同轴电缆输出、匹配调谐、取功率反馈信号，进行闭环自动控制 工作频率：40.68MHz ±0.05% 频率稳定性：≤0.1% 输出功率：800—1200W 输出功率稳定性：≤0.3% 电磁场泄漏射强度：距机身20cm? 电场强度E：＜2 V / m 2、进样装置 输出工作线圈：内径25mm、3匝 炬管：三同心型，外径20mm的石英炬管 同轴型喷雾器：外径6mm 双筒型雾室：外径34mm 观测位置：纵向观察高低和横向观察前后，可通过软件直观地调为***佳 氩气流量计规格和载气压力表规格： 1等离子气流量计??? (100－1000)L/h??? (1.6－16L/min) 2辅助气流量计????? (10－100)L/h????? (0.16－1.66L/min) 3载气流量计  (10－100)L/h????? (0.16－1.66L/min) 4载气稳压阀  (0－0.4Mpa)L/h 5冷却水  水温：15－25℃流量＞5L/min 水压＞0.1Mpa 冷却水：电阻率＞1MΩ 3、分光器 光路：??? Czerny－Turner 焦距：??? 1000mm 光栅规格：离子刻蚀全息光栅；刻线密度3600线/mm，刻线面积：80×110mm(可选用刻线密度2400线/mm，刻线面积：80×110mm) 线色散率倒数：0.26nm 分辨率：?????? ≤0.008nm（整个波段） 扫描波长范围：180—500nm，3600刻线/毫米  180—800nm，2400刻线/毫米 步进电机驱动***小步距：0.0005nm 出射、入射狭缝：20μm×25μm 反射镜规格：?? （78×105×16）mm 透镜： φ30,? 1:1成像 反射镜规格：???? 凹型 分光器恒温装置：26℃±1℃ 4、测光装置 光电倍增管规格：R212UH或R928 光电倍增管负高压：200—1000V 自动调节稳定性＜0.05% 光电倍增管电流测量范围：10-4~10-9A 信号采集为V/F交换：1mV对应100Hz 采样电路：使用国外高精密度运算放大器，使仪器的灵敏度和精确度大大提高 仪器数据采集：通过串口与电脑连接，从而简化了电路使连接更加便捷 测光方式：单、多元素顺序测量

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