GW-4040型石油X射线荧光地质录井仪

产品概述： ? GW-4040型石油X射线荧光岩屑录井分析仪是通过对岩屑中化学元素组合特征进行分析来识别岩性，从而判断层位。 ? 适用范围： ? 适用于油气勘探钻井过程中的岩屑分析。 ? 产品特点： ? 采用X射线作为激发源进行激发，单次激发所有待测元素，窗口为Be（铍），窗厚为125μm，靶材选Au； 采用进口的高能量分辨率的电制冷Si-PIN半导体探测器，不需要液氮制冷，内置多层准直器，面积达到25mm2,厚度达到500μm，能量分辨率达到125eV; ? 配置真空泵自动在样品仓内建立真空环境进行测量，有效提高了轻元素的激发效率和测量范围； ? 仪器面板带管压监测、温度监测，实时监测腔体的真空压力，保证有效的真空度，同时对探测器散热板的温度进行监测，温度过高即报警，有效的保护探测器； ? 对抽真空以及充气过程中的流量进行控制，防止流量过大对探测器探头以及射线管探测头造成伤害； ? 真空仓内置过滤隔离板，同时真空仓内壁做特殊的处理增加灰层的附着力，有效的防止充气过程中，气流吹起的灰尘污染探测器探头以及射线管探测头； ? 内置步进电机，是样品环在检测的过程中处于旋转状态，从而使X射线激发的位置不断的改变，既能保证测量信号的准确性，又能提高信号的强度； ? 该X射线荧光地质录井仪专为岩屑分析而设计，压片无需添加任何试剂； 分析元素 Al、Si、P、S、Cr、Fe、Mn、Pb、Zn、Ca、Ti、V、Cu、Sn等 探测下限 Al、Si、P、S、Ca：0.01% Ti、V、Cr、Fe、Mn、Pb、Zn、Cu、Sn：0.001% 分析范围 0.0001%~100% 能量范围 1-30keV 采样时间 <180秒 重复性误差 ≤±1%F.S 稳定性 ≤±1%F.S

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