上海三箱式温度冲击试验箱型号:BYR系列
产品简介:温度冲击试验箱广泛用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑料等行业,国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的质量,从精密的IC到重机械的组件,可作为其产品改进的依据或参考。
网址:www.shbaoyt.com一、上海三箱式温度冲击试验箱结构特点1、 箱体内外部材质采用不锈钢板(SUS#304),外部材质有种不同外箱材质可供选择
2、 运转中状态显示及曲线显示,发生异常状况时,屏幕上即刻自动显示故障点及原因和提供排除故障的方法,并于发现输入电力不稳定时,具有紧急停机装置
3、 先进科学的空气流通循环设计,使室内温度均匀,避免任何死角;完备的安全保护装置,避免了任何可能发生安全隐患,保证设备的长期可靠性
4、 可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能,并于执行冷热冲击条件时,可选择二槽式或三槽式及冷冲、热冲进行冲击之功能,具备高低温试验机的功能 。二、三箱式温度冲击试验箱试验满足标准1.GB/T10592-1989高低温试验箱技术条件.
2.GB/T2421-1991《电工电子产品基本环境试验规程总则》.
3.GB/T2423.21-1991《电工电子产品基本环境试验规程试验M:低气压试验方法》.
4.GB/T2423.25-1992《电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AM:低温/低气压综合试验方法》.三、三箱式温度冲击试验箱安全保护1、超温保护装置;
2、压缩机过热保护开关;
3、压缩机高低压保护开关;
4、气源低压保护开关;
5、压缩机过电流保护开关,四、三箱式温度冲击试验箱技术参数5. 性能指標 环境条件
5.2 测试方法环境温度: +5℃~+30℃
相对湿度≤85%RH
试验箱内无试样条件下
GB/T5170.2-2008 温度试验设备5.3.高温室5.3.1预热温度范围+60℃~+200℃5.3.2.升温时间+60℃→+200℃ ≤25min
注:升温时间为高温室单独运转时的性能5.4.低温室5.4.1预冷温度范围-65℃ ~ -10℃5.4.2降温时间+20℃ → -55℃≤55 min
注:降温时间为低温室单独运转时的性能5.5.试验室(试样区)5.5.1. 试验方式气动风门切换2温区或3温区,风速调节5.5.2.RAMP应力 筛选+125℃~ -40℃ 溫變率:5~30℃/MIN
+60℃~ -40℃ 溫變率:5~40℃/MIN
【+60℃~0℃之間溫度範圍, 是無法做執行設定衝擊及RAMP功能】5.5.3温度冲击范围(+60~+125)℃/(-40~-10)℃5.5.4温度波动度±0.5℃5.5.5温度偏差±2.0℃5.5.6温度恢复时间≤5min五、上海三箱式温度冲击试验箱厂家售后服务1、设备免费送货上门、安装调试、代培操作人员(直到对方满意为止)
2、设备免费保修一年,享受终身服务,非保修期适当收取材料成本费
3、详细规格以相应规格书为准.特殊规格可定做。(欢迎致电洽谈)