现场检测土壤污染
X-MET7000系列手持型X射线荧光分析仪,能高效快速现场检测土壤里重金属污物。X-MET是环境应急检测、固体废弃物检测、土壤污染追踪、土壤修复和日常监控的必要分析工具。极大地降低了实验室分析的需求和成本。
X-MET7000使用牛津仪器专利的PentaPIN探测器,分析性能更强。X-MET7500装有高分辨率的硅漂移探测器(SDD),分析灵活快速,检测下限更低。
快速/坚固/可靠
X-MET7000系列提供:
● 快速准确地测定有毒元素和污染物
● 用户可自定义污染物限量值,使用“合格/不合格”简明的信息框,快速 确定土壤污染应急方案
● 通过内置GPS系统,集成分析数据和地理位置,绘制土壤污染区域分布图● 直接对地面土壤进行分析或者采用样品袋进行分析
● 不需要样品制备即可得到实验室级分析结果
实现对实验室分析依赖的*小化,
大大降低成本节约时间
● 任何时间、任何地点,现场分析只需要几秒钟● 可检测岩石和粉末
● 筛选分析几乎不需要样品制备
● 能非常准确地鉴定超过25种元素,包括V,Cr,Co,Cu,Ni,Zn,As,Se,Mo,Ag,Cd,Pb,Hg,Sb等
● X-MET7000和X-MET7500完全符合EPA6200方法要求
● 使用基本参数法和/或经验系数法,性能和灵活性无与伦比
● 实时显示数据平均值,保证更可靠的结果
● 可创建自定义经验系数法校准来满足您的具体要求
●现场可创建和保存密码保护的PDF结果报告
经久耐用的设计,适合于各种恶劣的
环境和气候条件
● 高强度密封型抗冲击外壳设计
● 经IP54(NEMA3)认证,超一流的防尘、防水特性
● 橡胶保护套可保护仪器屏幕、前端和电池,可以避震并防止仪器从倾斜工作面滑落
● 从酷热到严寒,X-MET总是能表现出*佳性能