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  • L170涂层测厚仪Lee测厚仪

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L170涂层测厚仪Lee测厚仪

L 170测量范围:01250um050mil
L 170测量精度:± [(1%~3%)H+1um]???? ?? 注:H是厚度读数
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简单介绍
美国LEE涂层测厚仪美国LEE 涂镀层测厚仪采用了世界先进的技术,是一种超小型测量仪,可无损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、锌、锡、珐琅、橡胶、塑料、油漆等)可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。由于该仪器体积小,测头与仪器一体化,特别适用于工程现场测量;该仪器坚固耐用、用途广泛,可单手操作。
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美国LEE涂层测厚仪
LEE Instruments 170涂层测厚仪
美国LEE Instruments公司设计制造
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L360/L170+
1?只需调零、无需校准;
2?Fe大量程探头;
3?一体化设计;
4?自动关机;
5?用户校验标准过程。
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Lee Instruments技术参数
型号
L170+
L200
L160
L180
L360
基体
Fe
Fe/NFe
NFe
Fe/NFe
Fe
显示
LCD显示
测量范围
0 — 1250um
0 — 1250um
0 — 200um
0 — 1250um
0 — 6000um
测量精度
±3%H+1um
显示精度
1um
工作温度
-10 — +60oC
温度补偿
0 — +50oC
*小基体
10mm×10mm
*小曲率
凸半径:5mm;凹半径:25mm
*薄基体
Fe0.2mmNFe0.05mm
电源
7号电池4
重量
82g(不含电池)
尺寸
112 ×69×28mm

企业名片

上海申方源仪器有限公司

 

 

 

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