静态法比表面积及介孔分布测量仪

静态法比表面积及介孔分布测量仪

仪器介绍

专业生产静态法比表面积及介孔分布测量仪，BET比表面仪，比表面测试仪，比表面测定仪，比表面测试，比表面测定仪，比表面积测试，比表面积及孔径分布测试，孔径分析仪，孔径分布测试，比表面积及孔径分布测试仪，比表面测试仪全自动化孔径分析仪，比表面积仪，孔容积测定仪，孔径分布检测仪，孔径分布测量仪，孔隙率测定仪，孔隙率检测仪， 孔隙率测量仪，孔容测试仪，孔结构分析仪，孔径测定仪，孔隙度检测仪，孔隙度测量仪，总孔体积测量仪，孔结构测试仪，孔容分析仪，孔体积测定仪，孔隙度测试仪，平均孔径检测仪，平均孔径测定仪

静态法比表面积及介孔分布测量仪（静态容量法）是北京精微高博科学技术有限公司独自开发设计、生产制造与销售的仪器，本公司有静态容量法和动态色谱法两大类六种型号，静态容量法比表面积及介孔分布测量仪是与国外同类产品相同质量和功能的仪器。静态容量法比表面积及介孔分布测量仪在国外普遍采用，JW-BK和JW-RB为本公司独创的静态容量法比表面积及介孔分布测量仪，性能达到国外同类水平，深受国内用户欢迎。国内知名院校率先应用，如北大深圳研究生院、北京中医药大学、华东理工大学、江南大学、渭南师范学院、凯迪股份有限公司等等；

主要特点/技术参数

静态法比表面积及介孔分布测量仪产品特点
自主知识产权，比表面积及介孔分布测量仪器功能与性能达到国际水平，可以代替进口；
比表面积及介孔分布测量仪自动化程度很高，可以做到完全无人值守；
独特的真空及气路设计，采用了独有的内置式微型调节阀；
可靠的无泄漏（10-9cc/sec）无污染的真空系统；
极佳稳定性的高灵敏压力传感器（0.25%）；
相对压力-平衡时间的全自动控制及平衡技术；
氮吸附、氮脱附压力及平衡时间可以自由设置，做到*佳选择；
软件功能齐全，在计算机屏幕上实时显示测试比表面积积及孔径分布的实验过程，比表面积积及孔径分布试验结果同步得出；
可以单从吸附曲线得出ＢＪＨ孔径分布，测试比表面积积及孔径分布的时间可以节省一半；
只用高纯氮气,不用氦气；
高质量液氮杜瓦瓶及密封装置，大大降低了液氮的消耗；
与国外进口比表面积及介孔分布测量仪器相比，具有*大的性价比；
国产比表面积及介孔分布测量仪器维修及售后服务及其方便。

静态法比表面积及介孔分布测量仪的特性如下：
静态法比表面积及介孔分布测量仪的主要功能：可实行BET比表面积（多点及单点）测试，Langmuir比表面积测试，炭黑外比表面积测定，吸附、脱附等温曲线测定， BJH孔径分布、总孔体积和平均孔径测定；
真空系统：极限真空度6×10-2Pa
测量范围：比表面积 ≥0.01M2/g 至无规定上限，孔尺寸 0.7~ 400nm ;
样品数量：可同时测定1-4个样品；
测量精度：≤± 2% ；
静态法比表面积及介孔分布测量仪的压力控制：高精度压力传感器，数字显示，精度 0.2%，独特的充气与抽气速度自动控制系统
静态法比表面积及介孔分布测量仪的运行方式：高度自动化，智能化，长时间运行可以无人看管自行测试
静态法比表面积及介孔分布测量仪的测试时间：多点BET法比表面积平均每个样品15分钟，孔径分布测试、孔隙度测试平均每个样品100分钟
测试气体：高纯氮气（不用氦气），氮气消耗量极小
吸附过程：样品不需要频繁从液氮杜瓦瓶中进出，液氮消耗极少
静态法比表面积及介孔分布测量仪的软件系统：在Windows平台上，提供过程控制和数据采集、处理、报告系统，多种测试方法可自由方便选择，在计算机屏幕上，同步显示吸、脱附，比表面积及介孔分布测量仪测试过程、可随时查看已完成部分的测试数据；本机软件功能强大、界面友好、兼容性高、使用方便；

应用领域

静态法比表面积及介孔分布测量仪的应用领域： 催化剂，广泛用于石化、化工、医药、食品、农业、精细化工等领域；吸附剂，如活性炭、分子筛、活性氧化铝等，广泛用于环保领域；颜填料，无机颜料、碳酸钙、氧化锌、氧化硅、矿物粉等；陶瓷材料原料，氧化铝、氧化锆、氧化釔、氮化硅、碳化硅等；炭黑、白炭黑、纳米碳酸钙等用于橡塑材料的补强剂等；新型电池材料，如钴酸锂、锰酸锂、石墨等电极材料；发光稀土粉末材料； 磁性粉末材料，如四氧化三铁、铁氧体等；纳米粉体材料，包括纳米陶瓷材料、纳米金属材料，纳米银粉、铁粉、铜粉、钨粉、镍粉等；其他，如超细纤维、多孔织物、复合材料、沉积物、悬浮物等；
 

耗材配件

此仪器尚无耗材配件

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