CMI900型X射线荧光镀层测厚仪基于Windows2000中文视窗系统的中文版SmartLink FP应用软件包，实现了对CMI900主机的全面自动化控制，分析中不需要任何手动调整或手动参数设定；数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求；如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等；统计功能提供数据平均值、误差分析、*大值、*小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式；能够测量多种几何形状、各种尺寸的样品；并且测量点*小可达0.025 x 0.051毫米。
