802W二米平面光栅摄谱仪

802W二米平面光栅摄谱仪 一、用途： 二米平面光栅摄谱仪广泛地用于地质、冶金、石油、化工、机械等工业部门对矿石、矿物的光谱全分析，金属及其合金的元素含量分析以及高纯物质的杂质痕量分析，稀有元素及稀土元素的定量分析。 二、主要特点： 本仪器采用光栅做色散元件，具有谱线清晰，分辨率高，色散大，线色散的倒数从0.8nm/mm， 0.4nm/mm到0.2nm/mm能广泛地用于各种物质分析，整个（对光、预燃、曝光、板）操作过程自动控制。 三、规格: 波长范围：200-1000nm 摄谱仪焦距：F=2100MM 相对孔径：1：28（*大） 狭缝主要技术指标： 宽度分划范围：0.3mm 分划值：0.001mm 重复性：0.001mm 有效高度：10mm 暗盒尺寸：240×90mm 光栅规格： 光栅编号 NO.1 NO.2 NO.3 波长范围（nm） 330-1000nm 200-600nm 200-600 刻化条数(mm) 1200 1200 600 光栅刻化面积（mm） 90×50mm 90×50mm 90×50mm 闪耀波长（nm） 600nm 300nm 300nm 线色散倒数 （nm/mm） 0.4nm/mm0.4nm/mm一级 0.4nm/mm一级 0.2nm/mm二级 一 次 摄 谱 范 围（nm）96nm一级 96nm 192 48nm二级 理论分辨本领 108，000 108,000 54,000 外形尺寸：（包括导轨在内） 2400×1500×600 重量：150kg

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