TIR100–2热发射率测定仪

 型 号：YT/TIR 100-2  发射率测试仪

    产 地：德 国  （原装进口）

       TIR100–2热发射率测定仪，应用范围广泛,可在数秒钟内快速确测定物体表面热发射率，实为测量发射率进行有效质量控制的理想设备。
 

TIR 100-2可在数秒钟内测量物体表面的热发射率。即使是特殊结构和曲面也可以直接测量，该设备自成一体，包含全部操作和电子元件，可测量和处理传感器信号和显示数据，以及控制黑体温度。                             
TIR 100-2是众所周知的TIR 100的更新设备，我们不但在TIR 100-2中融入了TIR 100的可靠技术，还高度集成了电子元件和舒适的触摸屏使设备更加轻巧和易于使用。
内部微控制器可将发射器温度调节至恒定的100℃，同时记录传感器信号并配合存储的标准值将其转换为发射率的**值。
大屏幕LED显示设备的状态，测量结果和操作菜单，触摸屏面板确保所有功能轻松实现。
设备的核心部件是半球形的黑体，由于发射器涂有黑色涂层，因此具备近乎理想黑体的所有属性。发射器的工作温度为100℃，黑体外壳的其余部分与发射器热绝缘。因此在仪器运行过程中仅产生轻微热量。
仪器内部的逆向热熔丝防止发射器加热时产生过多热量，并可在125℃中断加热过程。
热电堆传感器将反射的热辐射转换为电压信号，并按照特定温度下的普朗克黑体定律给出热辐射的光谱分布图。超过97%的辐射能的波长在2.5 μm和40 μm范围之间。

应用：
1.镀膜玻璃的质量控制
  热保护绝缘玻璃的的低U-值取决于玻璃镀膜的低发射率，TIR 100对镀膜的质量控制以及实验室中开发新镀膜非常有用。
 2.太阳能收集器生产的质量控制
  优质的太阳能收集器的效率取决于收集器表面非产低的发射率，因此TIR 100也是此行业质量控制的理想设备
技术数据
测量范围                        < 0,020 … 0,980
精度                            +- 0,002
光谱范围                        2,5 μm - 40 μm
辐射能*大值                    8 μm                                 
黑体温度                        100 °C
积分时间                         5秒
测量点                           ~5 mm
额定功率                         130 W（230 V~/115 V~ (opt.)）
尺寸                             230毫米x 140毫米x 120毫米
重量                             2公斤
校准用标准                       低发射端：抛光铝
                                   高发射端:黑色遮光罩
参考发射率                         低发射端标准值~0,02
                                   高发射端标准值~0,98
                                   个别校准可参考国家物理实验室校准标准

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